涂镀层测厚原理简介

涂镀层厚度的测量方法主要有：磁吸力原理，电磁测量法，涡流测量法，涡流测量法，X射线荧光法，β射线反向散射法，楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法等。这些方法中前5种方法为无损测量，后五种为有损检测。 随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方法进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽，操作简便且价廉是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。

一、磁吸力测量原理及测厚仪

永久磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用最广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。

这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。

二、电解法测量原理

利用库伦电量分析原理，过程类似于电镀，但是电化学反应的方向相反，是电解除镀。库仑法测厚仪是对被测部分的金属镀层进行局部阳极溶解，通过阳极溶解镀层达到基体时的电位变化及所需时间来进行镀层厚度的测量。可以用于测量几乎所有基体上的电镀层厚度。测量时只需去除几乎看不到的一小块面积的镀层金属，而基体不受影响。库仑法确保测量结果准确、可靠，库仑法测厚仪使用简便。测量操作由仪器的指令自主完成，操作者不需要专业知识。库仑法又是唯一能够测量复合镀层、多层镀层的方法。例如测量在铁上依次镀上的铜、镍、铬等。

三、放射法测量原理

X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂，价格较高，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。